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日本日置阻抗分析儀 IM7587-01/02 可信賴的機型3GHz ● 測試電壓測量頻率：1MHz~3GHz ● 測量時間：較快0.5ms（模擬測量時間） ● 測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時的代表值） ● 基本精度：±0.65% rdg. ● 緊湊主機僅機架一半大小，測試頭尺寸僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）

日本日置電氣化學阻抗分析儀 IM3590 用于測量電氣化學零件和材料/電池/EDLC（電氣雙層電容） ● 適用于離子運動和溶液電阻測量，1mHz ～ 200kHz的寬范圍信號源 ● 1臺機器即可實現(xiàn)LCR測量、掃描測量的連續(xù)測量和高速檢查 ● 可測量電池的無負載狀態(tài)產(chǎn)生的內(nèi)部電阻 ● 較快2ms的高速測量，實現(xiàn)掃描測量的高速化 ● 基本精度±0.05%，零件檢查到研究開發(fā)測量均可對應

日本日置電氣阻抗分析儀 IM3570 1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查 ● 1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查 ● LCR模式下較快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量 ● 基本精度±0.08%的高精度測量 ● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量